TÀI LIỆU SỐ

Danh mục TaiLieu.VN

Nghiên cứu ảnh hưởng của số lượng khe hở đến giá trị điện cảm của cuộn kháng bù ngang

Bài viết sử dụng phương pháp giải tích dựa trên lý thuyết về mô hình mạch từ và phương pháp phần tử hữu hạn để tính toán và đưa ra mối quan hệ giữa giá trị điện cảm với số lượng khe hở khác nhau phân bố trên trụ. Trên cơ sở các kết quả đạt được, bài báo chỉ ra số lượng khe hở phù hợp khi tính toán thiết kế cuộn kháng.

Từ khóa: Cuộn kháng bù ngang, Mô hình mạch từ, Phương pháp phần tử hữu hạn, Lý thuyết về mô hình mạch, Tính toán thiết kế cuộn kháng

9 p tailieu_bvu 27/09/2021 116 0

Bình luận